J750測試系統(tǒng)
- 制造廠商：Teradyne
- 購置日期：2014-02-14
- 型號：J750ex
- 生產(chǎn)國別：日本
- 儀器類別：電子測量儀器
- 安放地址：上海市
跨區(qū)域科技政策：
-
上海
-
南京宿遷淮安徐州泰州鎮(zhèn)江揚州鹽成常州無錫南通蘇州連云港
-
杭州衢州溫州臺州舟山金華紹興湖州嘉興寧波麗水余姚
-
合肥毫州六安宿州阜陽黃山淮北淮南蚌埠宣城池州滁州安慶銅陵蕪湖馬鞍山
- 儀器詳情
-
1：超大規(guī)模集成電路芯片的測試，包括package和晶圓測試，處理器芯片 2：大規(guī)模系統(tǒng)級芯片的測試，包含各種IP，如memory單元，高速模擬單元，射頻單元，高速接口單元。 3：可以用于低成本晶圓級測試方案，降低產(chǎn)品測試成本
-
暫無信息
-
暫無信息
-
（1）數(shù)字功能部分 1.時鐘頻率：100MHz 2.數(shù)字通道 :192， 每個通道具有獨立的驅(qū)動電路、比較電路、動態(tài)負載機PPMU 3.基本數(shù)據(jù)速率 ：100MHz 4.向量存儲深度 ：8M 5.掃描測試深度 ：最大提供共享96M或384M的掃描深度，并能提供最大32鏈每鏈32M深度的掃描能力 6.邊沿定位精度 ：土325 ps 7.每周期內(nèi)包含6個信號邊沿，4個驅(qū)動，2個接收256個全局時間套，每通道具有32個獨立的邊沿套同時支持窗口采樣與邊沿采樣 （2）模擬功能部分 1.MSO選件有4組差分任意波形發(fā)生器和4路差分數(shù)字化儀，每路有一個32位的DSP用于分析測量范圍達到100db的SNR和THD 2.最高采樣率： 輸出100M次/秒，輸入50M次/秒 3.絕對范圍：≥14bit （-6V~+6V） 4.偏置范圍：16bit （-5V~+5V） 5.動態(tài)范圍：＞105db （3）DC測試性能 1.PPMU（per_pin parameter measurement unit） ： -2V~+7V ±2mA 分辨率200nA 2.BPMU (board parameter measurement unit) : ±24V(max) ±200mA（max） 分辨率：2uA 3.電壓源分辨率/電壓源量測分辨率： 2mV/2mV 4.電流源分辨率/電流 5.源量測分辨率：100nA/100pA
-
暫無信息
-
暫無信息
-
暫無信息
-
暫無信息
-
暫無信息
-
暫無信息
日月光封裝測試（上海）有限公司
機構(gòu)介紹: 日月光集團為全球最大半導(dǎo)體封裝與測試製造服務(wù)公司，提供半導(dǎo)體客戶包括晶片前段測試及晶圓針測至後段之封裝、材料及成品測試的一元化服務(wù)。客戶也可以透過日月光集團的專業(yè)電子代工製造服務(wù)的環(huán)隆電氣，提供完善的電子製造整體解決方案。身為全球領(lǐng)導(dǎo)地位，日月光以卓越技術(shù)、創(chuàng)新思維、與高階研發(fā)能力服務(wù)半導(dǎo)體市場。
半導(dǎo)體製造流程涵蓋積體電路設(shè)計、晶圓製造、封裝和成品測試。半導(dǎo)體是電子與系統(tǒng)產(chǎn)品的重要基礎(chǔ)製程。隨著市場需求快速、智慧型與手持式裝置的整合性電子產(chǎn)品，晶片發(fā)展不斷趨向微型化，日月光也持續(xù)研發(fā)先進技術(shù)，協(xié)助客戶快速的產(chǎn)品上市時程。
資質(zhì)能力：
